簡要描述：透反射金相顯微鏡、金屬檢測顯微鏡、焊錫檢測顯微鏡、光刻板檢測、電極檢測，半導體硅片檢測，材料科學，地質礦物質 精密工程JX-BH200M 雙目透反射金相顯微鏡，JX-BH200MS三目透反射金相顯微鏡
產品型號：JX-BH200M/JX-BH200MS更新時間：2025-03-05產品資料：JX-BH200M系列正置金相顯微鏡
JX-BH200M 雙目透反射金相顯微鏡，JX-BH200MS三目透反射金相顯微鏡
■采用平場消色差光學系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng)，同時在落射照明系統(tǒng)中設計防反射結構，有效防止反射光干擾成像光線，從而使成像更清晰、視場襯度更好。
■提供穩(wěn)定可靠的操作機構,使成像更清晰,操作更簡便。
■顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計，結構勻稱，實現(xiàn)鏡體擴展積木化。
■工作臺、光強與粗微調的低位操作，提高了使用的舒適性。
■廣泛應用于各類半導體硅晶片檢測、材料科學研究、地質礦物分析及精密工程等學科領域。
技術規(guī)格
標有“（選配）"為選配，其他為標配！
光學系統(tǒng) | 有限遠色差校正光學系統(tǒng) |
觀察筒 | 鉸鏈式雙目，30°傾斜，360°旋轉，瞳距調節(jié)范圍：54-75mm，雙邊±5屈光度可調； 鉸鏈式三目，固定式分光比，雙目:三目=80%:20% |
目鏡 | PL10X高眼點平場目鏡，線視場 18mm |
物鏡 | 長工作距平場消色差金相物鏡5X、10X、20X、50X、100X |
轉換器 | 內定位四孔轉換器 內定位五孔轉換器（選配） |
調焦機構 | 粗微調同軸，帶機械上限位和松緊調節(jié)裝置, 粗調行程28mm，微調精度0.002mm |
載物臺 | 雙層機械移動平臺,附設180X145mm平板平臺, 移動范圍：76mmX50mm |
照明系統(tǒng) | 反射式柯拉照明，自適應寬電壓90V-24V，6V/30W鹵素燈，光強連續(xù)可調,帶可變孔徑光闌與視場光闌,視場光闌中心可調 |
攝影裝置 | 攝影接筒（帶PK卡口），3.2X攝影目鏡 |
攝像裝置 | 0.35X/0.5X/1.0X C型攝像接筒 |
其他可選功能 | 簡易偏光 6V30W透射照明系統(tǒng) |
JX-BH200M 雙目透反射金相顯微鏡，JX-BH200MS三目透反射金相顯微鏡
JX-BH200M 雙目透反射金相顯微鏡，JX-BH200MS三目透反射金相顯微鏡
